Количество посещений: 899
, за текущий год: 25
| Исследование дефектов в тонких пленках металлов и полупроводников. Лабораторный практикум
|
| Учебно-методическое пособие разработано для студентов физиков специализации ?Материаловедение? и содержит лабораторный практикум
по электронной микроскопии тонких пленок металлов и полупроводников. В пособии изложены представления о дефектах кристаллических
структур, таких как дислокации и дефекты упаковки. Рассмотрена теория формирования контраста изображения тонких кристаллов
в просвечивающем электронном микроскопе. Данное пособие представляет собой версию в формате pdf (46 с.).
|
| 2008
|
| Кемерово
|
| Профессиональный уровень/Высшее образование
|
| Очная
|
| Обучаемый
|
| Учебно-методические материалы
|
| Текст
|
| Кемеровский государственный университет
|
| Учебные
|
| Русский
|
| Профессиональное образование
|
| Депозитарий КемГУ
|
| Для внутреннего использования
|
| 2008-02-11
|
| 2008-02-11
|
